FISCHERSCOPE XDLM231 X射線熒光測厚儀

• 更新時間：2019-12-19
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FISCHERSCOPE XDLM231 X射線熒光測厚儀
。比較XUL和XUM儀器而言, XDL和XDLM系列儀器測星測星方向從.上到下。它們被設計為用戶友好的臺式機,使用模塊化結(jié)構(gòu),也就是說它們可以配備簡單支板，各種XY工作臺和Z軸以適應不同的需求。

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FISCHERSCOPE XDLM231 X射線熒光測厚儀

從1953年至今，菲希爾公司不斷地在涂鍍層測厚、材料分析、微硬度測量和材料測試領域發(fā)展出創(chuàng)新型的測量技術。如今，菲希爾的測量技術已在世界各地得到應用，滿足客戶對儀器準確度，精度和可靠性的要求。

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 231
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 232
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237

兩種型號的儀器都配備了比例接收器探測器。即使對于很小的測量點,由于接收器的接收面積很大，仍然可以獲得足夠高的計數(shù)率,確保良好的重復精度。比較XUL和XUM儀器而言, XDL和XDLM系列儀器測星測星方向從.上到下。它們被設計為用戶友好的臺式機,使用模塊化結(jié)構(gòu),也就是說它們可以配備簡單支板，各種XY工作臺和Z軸以適應不同的需求。
配備了可編程XY工作臺的版本的XDL系列儀器可用于自動化系列測試。它可以很方便地掃描表面,這樣就可以檢查其均勻性。為了簡單快速定位樣品，當測量門開啟時, XY工作臺自動移動到加載位置,同時激光點指示測星點位置。對于大而平整的樣品,例如線路板,殼體在側(cè)面有開口(C形槽)。由于測星室空間很大,樣品放置方便，儀器不僅可以測量平面平整的物體,也可以測星形狀復雜的大樣品(樣品高度可達140mm)。Z軸可電動調(diào)整的儀器，測量距離還可以在0 - 80 mm的范圍內(nèi)自由選擇,這樣就可以測星腔體內(nèi)部或表面不平整的物體(DCM方法)。

X熒光鍍層厚度檢測儀的應用范圍 :1、分析電子部品電鍍層的厚度 
　　                       2、各類五金電鍍件的鍍層厚度管控分析    
                           3、各鍍層的成分比例分析。

●單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。 
●二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。 
●三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。 
●雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。 
●雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。 
●多24種鍍層（使用WinFTM? V.6軟件）。 
●分析多達4種（或24種－使用V.6軟件）元素。 
●分析電鍍?nèi)芤褐械慕饘匐x子濃度。

X熒光電鍍厚度檢測儀設計特點：
☆ 單、雙及三層鍍層系統(tǒng)
☆ 雙元及三元合金鍍層的分析和厚度測量
☆ 雙層鍍層，其中合金鍍層在外層或在中間層的厚度測量和分析（兩層的厚度和合金成分都能被測量）
☆ 能分析多達四種金屬成分的合金；電鍍液中金屬離子含量
☆ 可編程的應用項圖標，用于快速應用項選擇
☆ 完整的統(tǒng)計功能，SPC圖，標準的概率圖和矩形圖評估
☆ 報告生成，數(shù)據(jù)輸出
☆ 語言可選擇：英語，德語，法語，意大利語，西班牙語，及中文
☆菜單中的某些選擇項可授權使用
注：基礎WinFTM軟件版本不允許創(chuàng)建新的應用，所要求的應用不得不在定貨時明確。當校準標準塊與儀器一起定購時，可在交貨前預先創(chuàng)建應用。若沒有定購校準標準塊，則只可使用已預裝的*無需標準塊的測量應用。
☆ 可隨意創(chuàng)建測量應用
☆ 可把每種測量模式的測量范圍設定為想要的理論上的測量精度
☆ 快速的頻譜分析以決定合金成分 
 

篤摯儀器供應測量儀器，這些產(chǎn)品均由高品質(zhì)的原材料和良好的技術制造，*，符合質(zhì)量標準。我們經(jīng)驗豐富的質(zhì)量控制團隊對儀器提供的測試范圍進行了各種參數(shù)的測試。我們的產(chǎn)品系列因其高性能，高效率，增強的耐用性和成本效益而贏得了客戶的*好評。*，歡迎電詢!